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膜面缺點檢查整合系統

膜面缺點檢查整合系統由AOI掃描檢查膜面,讀取缺點位置,輸出X.Y缺點座標位置和缺點圖片,記錄在檢查機系統內,缺點圖片顯示在螢幕上;檢查缺點位置曲線會直接在顯示器上呈現。膜面缺點檢查整合系統主要適用產業別如:光學、生技、化工及半導體等。

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